F-Praktikum am PI
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Rasterkraftmikroskopie
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Worum geht's?
Bestimmung der Oberflächentopographie von Mikro- und Nanostrukturen mit einem Rasterkraftmikroskop, Rauschmessungen, Messung der Adhäsionskraft zwischen Substrat und Cantileverspitze.
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Wie wird's gemacht?
Mittels Rasterkraftmikroskopie wird die Oberflächentopographie verschiedener Mikro- und Nanostrukturen bestimmt. In diesem Zusammenhang lernen die Studenten die unterschiedlichen Betriebsmodi (contact und non-contact mode) eines Rasterkraftmikroskops kennen und studieren anhand von Rauschmessungen den Einfluss von elektrischem und strukturellem Rauschen. Zum Abschluss wird mittels Kraft-Distanz Kurven die Adhäsionskraft zwischen Cantileverspitze und Substrat gemessen.
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Was wird gelernt?
Grundlegende Funktionsweise eines Rasterkraftmikroskops nach dem Lichtzeigerprinzip, verschiedene Betriebsmodi eines Rasterkraftmikroskops, Einfluss von elektrischem und strukturellem Rauschen, Bestimmung von Adhäsionskräften.
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Wofür ist das interessant?
Bestimmung des spezifischen Widerstands von elektrisch leitfähigen Nanostrukturen, Charaktersierung und Analyse von Mikro- und Nanostrukturen z.B. bei der Qualitätssicherung im Rahmen des Fertigungsprozesses von Computerprozessoren, Life-Science Anwendungen.